MBM 601E - Advanced Characterization Techniques of Materials

Course Objectives

Malzemelerin yapıları ile özellikleri arasındaki ilişkilerin tanımlanması Malzeme Bilimi ve Mühendisliğinin temel yapıtaşlarından birisidir. Bu alan teknolojik gelişme ile birlikte yeni geliştirilen analiz yöntem ve teknikleri ile hızlı bir gelişim içerisindedir. Bu ders kapsamında temel mikroyapısal karakterizasyon tekniklerindeki gelişmeler ve malzemelerin yüzeyperformans ilişkilerinin belirlenmesinde kullanılan modern yüzey analiz teknikleri anlatılacaktır.

Course Description

X-ray diffraction techniques. Crystal structure analyses. Phase analyses and elemental
analyses via X-ray techniques. Fundamentals of Scanning and Transmission Electron
Microscopy (SEM and TEM). Electron diffraction patterns and determination. Advanced
TEM modes : Convergent beam electron diffraction (CBED), microdiffraction, Scanning
transmission electron microscopy (STEM), energy dispersive spectroscopy (TEM-EDS),
high resolution electron microscopy. Advanced TEM specimen preparation techniques :Ionmilling,
microtome, cross-sectional TEM specimen preparation techniques. Fundamental
principles of surface analysis techniques : Ion-solid, electron-solid, X-ray-solid interactions.
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Auger electron spectroscopy (AES), Scanning
Auger electron spectroscopy (SAM), Secondary ion mass spectroscopy (SIMS), Atomic
force microscopy (AFM) and Scanning tunneling microscopy (STEM) and their applications
in materials science.