MBM 601E - Gelişmiş Malzeme Karakterizasyon Yöntemleri

Dersin Amaçları

Malzemelerin yapıları ile özellikleri arasındaki ilişkilerin tanımlanması Malzeme Bilimi ve Mühendisliğinin temel yapıtaşlarından birisidir. Bu alan teknolojik gelişme ile birlikte yeni geliştirilen analiz yöntem ve teknikleri ile hızlı bir gelişim içerisindedir. Bu ders kapsamında temel mikroyapısal karakterizasyon tekniklerindeki gelişmeler ve malzemelerin yüzeyperformans ilişkilerinin belirlenmesinde kullanılan modern yüzey analiz teknikleri anlatılacaktır.

Dersin Tanımı

X-ışınları yöntemleri. Kristl yapı analizleri. X-ışınlrı yönetmeleriyle faz ve elementelanalizler. Tarmalı ve geçirimli Elektron Mikroskobisinin (SEM ve TEM) temel ilkeleri
Elektron difraksiyon paternleri ve tanımlanması. Gelişmiş TEM çalışma modları : Yakınsak
ışın elektron difraksiyonu (CBED), mikrodifraksiyon, Taramalı geçirimli elektron
mikroskobisi (STEM), enerji dağılım spektroskobisi (TEM-EDS), yüksek çözünürlük
elektron mikroskobisi. Gelişmiş TEM numune hazırlama teknikleri : İyon bombardıman,
mikrotom, kesitsel TEM numune hazırlama yöntemleri. Yüzey analiz yöntemlerinin ana
ilkeleri : İyon-katı, X-ışınları-katı etkileşimleri. X-ışınları fotoelektron spektoskobisi (XPS),
Auger elektron spektroskobisi (AES), Taramalı Auger elektron spektroskobisi (SAM),
İkincil iyon kütle spektroskobisi (SIMS), Atomik kuvvet mikroskobisi (AFM) ve Taramalı
tünel mikroskobisi (STM) ve malzeme bilimindeki uygulamaları.