Hoş Geldiniz, Misafir . Oturum Aç . English
Neredeyim: Ninova / Dersler / Fen Bilimleri Enstitüsü / MBM 601E / Dersin Bilgileri
 

Dersin Bilgileri

Dersin Adı
Türkçe Gelişmiş Malzeme Karakterizasyon Yöntemleri
İngilizce Advanced Characterization Techniques of Materials
Dersin Kodu
MBM 601E Kredi Ders
(saat/hafta)
Uygulama
(saat/hafta)
Labratuvar
(saat/hafta)
Dönem -
3 3 - -
Dersin Dili İngilizce
Dersin Koordinatörü Mustafa Lutfi Öveçoğlu
Mustafa Lutfi Öveçoğlu
Dersin Amaçları Malzemelerin yapıları ile özellikleri arasındaki ilişkilerin tanımlanması Malzeme Bilimi ve Mühendisliğinin temel yapıtaşlarından birisidir. Bu alan teknolojik gelişme ile birlikte yeni geliştirilen analiz yöntem ve teknikleri ile hızlı bir gelişim içerisindedir. Bu ders kapsamında temel mikroyapısal karakterizasyon tekniklerindeki gelişmeler ve malzemelerin yüzeyperformans ilişkilerinin belirlenmesinde kullanılan modern yüzey analiz teknikleri anlatılacaktır.
Dersin Tanımı X-ışınları yöntemleri. Kristl yapı analizleri. X-ışınlrı yönetmeleriyle faz ve elementelanalizler. Tarmalı ve geçirimli Elektron Mikroskobisinin (SEM ve TEM) temel ilkeleri
Elektron difraksiyon paternleri ve tanımlanması. Gelişmiş TEM çalışma modları : Yakınsak
ışın elektron difraksiyonu (CBED), mikrodifraksiyon, Taramalı geçirimli elektron
mikroskobisi (STEM), enerji dağılım spektroskobisi (TEM-EDS), yüksek çözünürlük
elektron mikroskobisi. Gelişmiş TEM numune hazırlama teknikleri : İyon bombardıman,
mikrotom, kesitsel TEM numune hazırlama yöntemleri. Yüzey analiz yöntemlerinin ana
ilkeleri : İyon-katı, X-ışınları-katı etkileşimleri. X-ışınları fotoelektron spektoskobisi (XPS),
Auger elektron spektroskobisi (AES), Taramalı Auger elektron spektroskobisi (SAM),
İkincil iyon kütle spektroskobisi (SIMS), Atomik kuvvet mikroskobisi (AFM) ve Taramalı
tünel mikroskobisi (STM) ve malzeme bilimindeki uygulamaları.
Dersin Çıktıları
Önkoşullar
Gereken Olanaklar
Diğer
Ders Kitabı
Diğer Referanslar 1. X-ray characterization of materials / ed. Eric Lifshin, Weinheim : Wiley-VCH, c1999.
2. Briggs, David, Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS, New York:
Cambridge University Press, 1998.
3. D. B. Willimas and C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy I, II, III, IV, Plenum
Press, New York – London, 1996.
4. Practical surface analysis / ed. David Briggs, M.P. Seah, 2nd ed., Chichester : Wiley,
1990.
5. Methods of surface analysis / ed. A.W. Czanderna, Amsterdam : Elsevier, 1989.
6. Leonard C. Feldman, James W. Mayer, Fundamentals of surface and thin film analysis,
New York : North-Holland, 1986.
 
 
Dersler . Yardım . Hakkında
Ninova, İTÜ Bilgi İşlem Daire Başkanlığı ürünüdür. © 2024