Dersin Bilgileri

Dersin Adı	Türkçe	Gelişmiş Malzeme Karakterizasyon Yöntemleri
	İngilizce	Advanced Characterization Techniques of Materials
Dersin Kodu	MBM 601E	Kredi	Ders (saat/hafta)	Uygulama (saat/hafta)	Labratuvar (saat/hafta)
Dönem	-	3	3	-	-
Dersin Dili		İngilizce
Dersin Koordinatörü		Mustafa Lutfi Öveçoğlu Mustafa Lutfi Öveçoğlu
Dersin Amaçları		Malzemelerin yapıları ile özellikleri arasındaki ilişkilerin tanımlanması Malzeme Bilimi ve Mühendisliğinin temel yapıtaşlarından birisidir. Bu alan teknolojik gelişme ile birlikte yeni geliştirilen analiz yöntem ve teknikleri ile hızlı bir gelişim içerisindedir. Bu ders kapsamında temel mikroyapısal karakterizasyon tekniklerindeki gelişmeler ve malzemelerin yüzeyperformans ilişkilerinin belirlenmesinde kullanılan modern yüzey analiz teknikleri anlatılacaktır.
Dersin Tanımı		X-ışınları yöntemleri. Kristl yapı analizleri. X-ışınlrı yönetmeleriyle faz ve elementelanalizler. Tarmalı ve geçirimli Elektron Mikroskobisinin (SEM ve TEM) temel ilkeleri Elektron difraksiyon paternleri ve tanımlanması. Gelişmiş TEM çalışma modları : Yakınsak ışın elektron difraksiyonu (CBED), mikrodifraksiyon, Taramalı geçirimli elektron mikroskobisi (STEM), enerji dağılım spektroskobisi (TEM-EDS), yüksek çözünürlük elektron mikroskobisi. Gelişmiş TEM numune hazırlama teknikleri : İyon bombardıman, mikrotom, kesitsel TEM numune hazırlama yöntemleri. Yüzey analiz yöntemlerinin ana ilkeleri : İyon-katı, X-ışınları-katı etkileşimleri. X-ışınları fotoelektron spektoskobisi (XPS), Auger elektron spektroskobisi (AES), Taramalı Auger elektron spektroskobisi (SAM), İkincil iyon kütle spektroskobisi (SIMS), Atomik kuvvet mikroskobisi (AFM) ve Taramalı tünel mikroskobisi (STM) ve malzeme bilimindeki uygulamaları.
Dersin Çıktıları
Önkoşullar
Gereken Olanaklar
Diğer
Ders Kitabı
Diğer Referanslar		1. X-ray characterization of materials / ed. Eric Lifshin, Weinheim : Wiley-VCH, c1999. 2. Briggs, David, Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS, New York: Cambridge University Press, 1998. 3. D. B. Willimas and C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy I, II, III, IV, Plenum Press, New York – London, 1996. 4. Practical surface analysis / ed. David Briggs, M.P. Seah, 2nd ed., Chichester : Wiley, 1990. 5. Methods of surface analysis / ed. A.W. Czanderna, Amsterdam : Elsevier, 1989. 6. Leonard C. Feldman, James W. Mayer, Fundamentals of surface and thin film analysis, New York : North-Holland, 1986.

Dersler

Yardım

Hakkında